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鉭電容技術(shù)
鉭電容失效原因：因素：容量、溫度和浪涌
2017-07-31 10:33:06 文章出處：avx鉭電容 作者：京瓷電子 瀏覽次數(shù)：72
鉭電容是市場(chǎng)上使用非常廣泛的電容器之一，是容易產(chǎn)生失效的元器件，相對(duì)陶瓷貼片電容顯得有些嬌貴。以下三種因素：容量、溫度和浪涌可能導(dǎo)致其功能失效。京瓷電子技術(shù)部同事給出了以下幾點(diǎn)分析：
早期的鉭電容的實(shí)效主要是由兩個(gè)因素造成的：
A.極性接反引起的擊穿失效----多在研發(fā)階段由于設(shè)計(jì)和測(cè)試不當(dāng)引起，所以禁止使用萬(wàn)用表電阻檔對(duì)鉭電容器電路或其本身進(jìn)行不分極性的電阻測(cè)試。
B.一種較為隱蔽的失效----常在工作時(shí)出現(xiàn)，其原因是由于焊接溫度過高，焊接持續(xù)時(shí)間過長(zhǎng)，導(dǎo)致鉭電容器內(nèi)部氧化膜受傷，造成漏電流大和短路失效。
生產(chǎn)和和使用中鉭電容失效經(jīng)驗(yàn)談：
鉭電容器失效多發(fā)生在固定的位置，或固定的電路中，譬如電源濾波電路中。
電源濾波電路中第一個(gè)鉭電容器最容易失效。
在測(cè)試時(shí)的通電瞬間鉭電容器最容易失效。
老化過程中容易失效。
散熱較差區(qū)域的鉭電容器更容易失效。
浪涌情況下鉭電容器更容易失效。
總結(jié)上述現(xiàn)象，主要導(dǎo)致鉭電容器失效的因素：容量、溫度和浪涌。